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产品分类 |
光学仪器及设备
滨松背照式sCMOS相机ORCA fusionBT
滨松硅光电二极管阵列S4111-35Q
滨松硅光电二极管S1337-33BQ
硅光电二极管S1337-66BQ
滨松微型光电倍增管光子计数探头H12406
滨松光电倍增管R10699
滨松长寿命150W氙灯L11033
滨松氘灯L9518
滨松硅光电二极管S12742-220
滨松硅光电二极管S12742-275
光谱检测分析仪
滨松FTIR光谱仪引擎C15511-01
滨松光学模块C13398-01
滨松光电倍增管R13456
滨松InGaAs线阵图像传感器G13913-128FB
滨松InGaAs线阵图像传感器G13913-256FG
滨松InGaAs线阵图像传感器G14237-512WA
滨松背照式CCD面阵图像传感器S12071
滨松MEMS-FPI近红外光谱探测器C14272
滨松微型光谱仪SMD系列C14384MA-01
滨松C13053MA微型光谱仪
气体检测仪
滨松铟砷锑光伏探测器P11120-201
滨松光电管R6800U-01
滨松光电倍增管R11715-01
滨松光电倍增管R9182-01
滨松铟镓砷PIN光电二极管G12183-010K
滨松砷化铟光伏探测器P10090-11
滨松砷化铟光伏探测器P10090-01
滨松带前置放大器的红外探测器模块C12494-210S
滨松P13894-011NA铟砷锑光伏探测器
滨松P13894-211MA铟砷锑光伏探测器
测量/计量仪器
滨松C11209-110 MPPC(硅光电倍增)模块
C7700-01高动态范围条纹相机
C6138飞秒条纹相机FESCA-200
C11293-02近红外条纹相机
通用型条纹相机
滨松条纹相机
紫外光功率计
光子计数模块
荧光寿命/瞬态吸收分析系统
C11295多点纳米膜厚测量仪
质谱检测分析仪
滨松辅助离子化基板DIUTHAME A13331-3-1
滨松辅助离子化基板DIUTHAME A13331-18-2
滨松辅助离子化基板DIUTHAME A14111-3-1
滨松MCP微通道板F14844
滨松MCP微通道板F14845-11
滨松高压电源模块C14051-15
滨松电子倍增器R4146-10
滨松微通道板MCP F9890-12
滨松电子倍增器R13733
滨松微通道板MCP F13446-11
临床检验仪器设备
C11787系列免疫色谱读取仪
免疫色谱读取仪-荧光型C10066-50
数字切片扫描设备NanoZoomer-XR
数字切片扫描装置(NanoZoomer2.0 HT)
荧光定位仪(PDE)
数字切片扫描装置2.0 RS
数字切片扫描装置NDP C9600-01
水质分析
BHP9510型手持式ATP快速检测仪
BHP9515型便携式生物毒性测试仪
BHP9514型饮用水安全快速检测仪
BHP9515型便携式(发光细菌)生物毒性测试仪
BHP9511水质毒性快速检测仪
BHP9514饮用水安全快速检测仪(发光细菌毒性检测)
半导体行业专用仪器
隐形切割装置
μAMOS红外共焦激光失效分析仪
热点检测微光显微镜THEMOS系列
实时分析微光显微镜TriPHEMOS
倒置微光显微镜iPHEMOS系列
微光显微镜PHEMOS系列
成像系统
双色分光附件
BHP6603型固定角双探头SPECT
BHP6602小型γ相机
BHP6601型SPECT
X射线仪器
碘化铯屏
C4575-03 X射线条纹相机
X射线平板探测器
微焦点X射线源
无损检测/无损探伤仪器
无损检测用X射线平板探测器
X射线探测器
其他
L10060 LD加热光源
农业和食品专用仪器
ATP荧光快速检测仪
制样/消解设备
数字切片扫描仪NanoZoomer-SQ
联系方式 |
产品系列
倒置微光显微镜iPHEMOS系列
该仪器设计紧凑,高度仅为80cm,因此可与多种测试机方便地对接。其配备的高灵敏度InGaAs相机以及多种激光选配件扩大了其动态分析的范围。
特性
高精度级的多相机平台
灵活的系统设计
多种探测器,可观测低压工作IC
倍率从1×到100×,多种镜头可选(可选配10镜头转台)
背面观测探针可测量从整个300mm晶片到单个die的范围
简化了测试机头对接,便于动态分析
用户友好型操作系统
易于升级,有利于后期应用
高分辨率模板图像
选配
高分辨率、高灵敏度观测用纳米透镜
使用纳米透镜可增加数值孔径,显著提高分辨率和光采集效率。这样可以减少探测时间,却可以提供更好的分辨率。
红外-光致阻值改变(IR-OBIRCH)分析功能
极受欢迎的红外-光致阻值改变(IR-OBIRCH)分析功能可作为选配增加到仪器中,来探测漏电流或静态电流缺陷(leakage or IDDQ defects)等的线缺陷
使用数字lock-in组件,可提高IR-OBIRCH分析的探测功能
软件提供的数字lock-in功能即使是很短的图像采集时间,也可以保证获得比模拟lock-in更清晰和锐利的图像。
激光辐射的动态分析功能
使用激光束照射,来观测器件工作中的状态变化(通过或者失败),以分析功能缺陷
序列测量软件
通过使用者执行一套流程,该功能可自动进行微光/IR-OBIRCH观测。连接半自动探针后,微光/IR-OBIRCH图像可按照序列测量并保存。连接大规模集成电路测试机或者外部电源也可以进行测量。
EO探针单元C12323-01
EO探针单元是一款工具,通过使用非连续光源,透过硅基底来观察晶体管状态。
配置
参数
产品名称 | iPHEMOS-SD |
---|---|
尺寸/重量*1 | 主单元:805 mm (W)×915 mm (D)×1180 (775*2) mm (H), Approx. 500 kg*2 控制台:880 mm (W)×1000 mm (D)×1775 mm (H), Approx. 200 kg |
*1:重量因配置不同而改变。
*2:高度等于iPHEMOS-SD上样品边缘的高度。